1光纜低水壓試驗
試樣的一端與尺寸合適的密封端接裝置相連，水壓通過該裝置直接施加到試樣該端暴露的橫截面上。暴露在水中的試樣側面部分應盡可能少，。并且端接裝置應不對光纜施加徑向壓縮力。除非相關詳細規(guī)范另有規(guī)定，密封端接裝置的密封件應為熔點至少為88℃的金屬合金。試樣應在23℃溫度下經受3%氯化鈉溶液或海水172Kpa的壓力6h。
2光纜靜水壓試驗
試樣的一端與尺寸合適的密封管中，該試樣端應伸出密封管至少0.5m，最多0.75m；密封管應以41N·m的扭矩扭轉并在環(huán)境溫度下預處理24h；然后密封管應以41N·m的扭矩再扭轉，并修整光纜內部元件，使其與光纜護套端頭平齊。應采用3%氯化鈉溶液或海水，將水壓施加在試樣的密封管端，水壓應在3min至10min內逐漸增加至相關詳細規(guī)范規(guī)定值并保持6h。
試驗要求：
1低水壓：按照上述規(guī)定進行試驗后，經試樣的水滲漏應僅是軸向的，并不大于35mL。
2靜水壓：按照上述規(guī)定進行試驗后，經試樣的軸向水流出量應不大于1000ml乘以光纜外徑平方；光纜內部元件的滑移應不大于20.0mm；允許鎖緊螺母之間的光纜開裂或破裂。
標簽：試驗，檢測
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